THIẾT BỊ KIỂM TRA KHUYẾT TẬT BẰNG SIÊU ÂM MẢNG ĐIỀU PHA - Sonatest VEO

THIẾT BỊ KIỂM TRA KHUYẾT TẬT BẰNG SIÊU ÂM MẢNG ĐIỀU PHA
Ứng dụng: kiểm tra khuyết tật đường hàn, dò khuyết tật chi tiết đúc, chi tiết gia công, kiểm tra ăn mòn đường ống, bồn áp lực

Máy dò khuyết tật bằng siêu âm mảng điều pha - Phased Array
Sonatest VEO - Máy dò khuyết tật bằng siêu âm mảng điều pha - Phased Array
  • Cấu hình Phased Array 16: 64 và 16:128
  • Tích hợp kỹ thuật kiểm tra đối đầu dò TOFD
  • Hiển thị hình ảnh chất lượng cao
  • Ghi dữ liệu toàn diện
  • Các ảnh quét mã hóa nhanh
  • Nhiều kỹ thuật quét
  • Kiểm tra UT & PA đồng thời
  • Tính toán tiêu cự tức thời
  • Tạo báo cáo dễ dàng
  • Vỏ ngoài chuẩn IP65
  • Các đồ thuật hiệu chuẩn
  • Tính năng 3D Scanplan
  • Cơ sở dữ liệu đầu dò & nêm đầu dò
  • Tính năng TCG và DAC
  • Kiến trúc 16 bit
  • Chiều dài quét không hạn chế
  • Kích cỡ file lưu lớn (2GB)
  • Kho lưu dữ liệu USB
Thiết bị siêu âm Phased Array mạnh mẽ và tính năng kỹ thuật cao

Thiết bị dò khuyết tật siêu âm Phased Array veo làm tăng tiếng tăm của Sonatest trong sự phát triển sản phẩm hướng kỹ thuật mới. Sự điều khiển dễ dàng của veo, đặc tính máy cao cấp, tính năng tiên tiến và thiết bị chắc chắn đã mang đến sự đơn giản, tương thích và tin cậy cho ngón tay người làm kỹ thuật. 

Kỹ thuật siêu âm Phased Array đã trở thành một phương pháp kiểm tra NDT tiên tiến. Kỹ thuật Phased Array cho phép người sử dụng điều khiển các tham số chẳng hạn như góc chùm tia siêu âm và khoảng cách tiêu cự để tạo ra ảnh của phần tử kiểm tra, nâng cao khả năng dò khuyết tật và tăng tốc độ kiểm tra. Thêm nữa, với việc sử dụng công nghệ máy tính tiên tiến, dữ liệu có thể được ghi lưu trữ lâu dài cho quá trình xử lý và tạo báo cáo. Thiết kế chắc chắn của veo, giao diện người dùng thân thiện và trợ giúp trực tuyến đã mang sức mạnh của kỹ thuật Phased Array cho kỹ thuật viên hiện trường. Các ứng dụng điển hình gồm: kiểm tra mối hàn, biểu đồ hóa sự gặm mòn, kiểm tra trong lĩnh vực hàng không và kiểm tra vật liệu hỗn hợp composite.
Sử dụng đơn giản

Hệ menu tương tác ứng dụng và thao tác làm việc, với việc thiết đặt và thao tác trở nên nhanh chóng. Các tính năng Trợ giúp và Đồ thuật được tích hợp hướng dẫn người sử dụng thiết lập tác vụ dò quét và các gợi ý hướng dẫn nhằm đảm bảo veo luôn vận hành ở mức độ cao nhất. Giao diện mô hình quét 3D Scanplan giúp quan sát tức thời cho các cấu hình thiết lập và sự truyền sóng siêu âm trong vật liệu, kể trong các ứng dụng sử dụng nhiều đầu dò quét phức tạp.

Thiết bị mạnh mẽ & tính năng kỹ thuật cao

Thiết bị dò khuyết tật siêu âm Phased Array veo làm tăng tiếng tăm của Sonatest trong sự phát triển sản phẩm hướng kỹ thuật mới. Sự điều khiển dễ dàng của veo, đặc tính máy cao cấp, tính năng tiên tiến và thiết bị chắc chắn đã mang đến sự đơn giản, tương thích và tin cậy cho ngón tay người làm kỹ thuật.

Kỹ thuật siêu âm Phased Array đã trở thành một phương pháp kiểm tra NDT tiên tiến. Kỹ thuật Phased Array cho phép người sử dụng điều khiển các tham số chẳng hạn như góc chùm tia siêu âm và khoảng cách tiêu cự để tạo ra ảnh của phần tử kiểm tra, nâng cao khả năng dò khuyết tật và tăng tốc độ kiểm tra. Thêm nữa, với việc sử dụng công nghệ máy tính tiên tiến, dữ liệu có thể được ghi lưu trữ lâu dài cho quá trình xử lý và tạo báo cáo. Thiết kế chắc chắn của veo, giao diện người dùng thân thiện và trợ giúp trực tuyến đã mang sức mạnh của kỹ thuật Phased Array cho kỹ thuật viên hiện trường. Các ứng dụng điển hình gồm: kiểm tra mối hàn, biểu đồ hóa sự gặm mòn, kiểm tra trong lĩnh vực hàng không và kiểm tra vật liệu hỗn hợp composite.
  
Sử dụng đơn giản

Hệ menu tương tác ứng dụng và thao tác làm việc, với việc thiết đặt và thao tác trở nên nhanh chóng. Các tính năng Trợ giúp và Đồ thuật được tích hợp hướng dẫn người sử dụng thiết lập tác vụ dò quét và các gợi ý hướng dẫn nhằm đảm bảo veo luôn vận hành ở mức độ cao nhất. Giao diện mô hình quét 3D Scanplan giúp quan sát tức thời cho các cấu hình thiết lập và sự truyền sóng siêu âm trong vật liệu, kể trong các ứng dụng sử dụng nhiều đầu dò quét phức tạp.

Các đồ thuật thiết đặt các tham số tốc độ âm, trễ nêm đầu dò, TCG, DAC, TOFD nhanh và hiệu quả và hiệu chuẩn bộ mã hóa được cung cấp như là tiêu chuẩn. Trạng thái hiệu chuẩn được chỉ thị rõ trên màn hình thông quá hệ đèn hiệu đơn giản, để người vận hành có thể chắc chắn rằng veo đã được hiệu chuẩn cho tác vụ kiểm tra khuyết tật.
Menu duyệt sử dụng bánh xe cuộn thế hệ thứ hai của Sonatest giúp chọn nhanh các tham số, các phím tắt truy cập đến các chức năng và ký tự sử dụng thường xuyên. Các phím Start, Stop và Record quen thuộc cho phép chuyển nhanh chóng giữa chế độ thiết đặt, thu thập dữ liệu và chế độ ghi.
 
Khả năng của máy

Thiết bị VEO mạnh mẽ phá cách một cấp độ tính năng mới trong một thiết bị cầm tay, tối đa hóa hiệu suất làm việc tại hiện trường. Bản đồ kiểm tra (Inspection Plan) biểu diễn theo ảnh 2D và 3D ở đó, các đầu dò được định vị trên vật kiểm tra, đơn giản hóa thiết đặt kiểm tra và là ảnh tham chiếu cho bản báo cáo kết quả. Tất cả các điều chỉnh tới luật tiêu cự là tức thời, với độ phân giải góc tới 0.1o và lên tới 1024 luật tiêu cự mà không làm mất đi tính năng. Đa kỹ thuật quét từ các đầu dò khác nhau có thể được hiển thị và đánh giá tại cùng một thời điểm. Quan sát đa dò quét hình quạt, dò quét trên, dò quét cạnh và dò quét đáy, cộng với C-Scan là được hỗ trợ bởi veo. Kiểm tra TOFD và Phased Array có thể được thực hiện theo kỹ thuật tandem và với file dữ liệu đến 2GB cho phép kiểm tra cho hiệu quả các chi tiết lớn. Dữ liệu dạng sóng được lưu trực tiếp tới thẻ nhớ USB và dễ dàng cho sao lưu và truyền tới máy tính PC.

VEO có hai kênh dò khuyết tật cho đầu dò đơn phần tử cho các tác vụ kiểm tra UT truyền thống. Tương tự thiết bị dò khuyết tật Masterscan của Sonatest, các kênh dò đơn có bộ phát xung đến 400V. Tính năng Time Corrected Gain (khuếch đại thời gian biến đổi) và bộ khuếch đại nhiễu thấp cho hầu hết các ứng dụng yêu cầu.

Kiến trúc phần cứng cung cấp cho người dùng dữ liệu siêu âm chất lượng cao nhờ kiến trúc 16 bít tốc độ cao và công nghệ ADC 12 bít, trong khi xử lý tín  hiệu số dựa trên sự làm trơn và trung bình hóa sự trình diễn hình ảnh.

Đo lường kích thước khuyết tật có thể thực hiện một cách nhanh chóng nhờ các công cụ đo lường tiên tiến như con trỏ 2D cho các tín hiệu TOFD và tín hiệu đỉnh. Các báo cáo có thể được tạo một cách nhanh chóng và được lưu theo dạng PDF để lưu vào ổ đĩa USB.

Với bất kỳ thiết bị dò khuyết tật nào, màn hiển thị là một thành phần quan trọng. Thiết bị Sonatest veo có màm hình chống lóa LCD màu TFT, hiển thị tốt ở mọi điều kiện làm việc, có tỷ số hiển thị/kích thước cao nhất khi so sánh với các thiết bị làm việc hiện trường khác.
 
Nhiều kỹ thuật quét (Multi Scans)

Veo có thể được cài đặt cấu hình để hiển thị nhiều ảnh quét trên màn hình. Điều này cho phép người dùng lựa chọn quan sát các ảnh quét quan trọng cho kiểm tra khai tác tối đa các ưu việt của màn hình. Các ảnh quét hình quạt, ảnh quét trên, ảnh quét cạnh và ảnh quét đáy có thể được kết hợp lại với nhiều ảnh A-Scan và TOFD. Con trỏ và thước đo được sử dụng để nhận biết khuyết tật trong các ảnh quét, còn các công cụ đo cung cấp thông tin về đến kích thước khuyết tật và các chú thích.

TOFD
Veo có kiến trúc hiển thị tín hiệu dạng tương cho kỹ thuật kiểm tra TOFD, sử dụng các bộ lọc tương tự phát triển từ dải sản phẩm dò khuyết tật của Sonatest. Kết hợp với các bộ khuếch đại nhiễu thấp, thu thập dữ liệu tốc độ cao và màn hiển thị có độ rõ nét cao, ảnh quét TOFD chất lượng cao có thể được hiển thị trực tiếp đồng thời với ảnh Phased Array. Kiểm tra Phased Array và TOFD có thể được đánh giá cùng nhau nhằm tăng thêm tin cậy trong quá trình kiểm tra mối hàn. Các công cụ đánh giá sẵn có cho phép đánh giá nhanh chóng và chính xác  cho kỹ thuật TOFD, và đưa vào các bản báo cáo kết quả kiểm tra.

TIN CẬY
veo được Thiết kế chắc chắn và có độ tin cậy cao là các đặc tính thiết yếu yêu cầu trong lĩnh vực NDT. Thời gian dừng máy sẽ tổn hao chi phí và cần được giảm thiểu để đảm bảo hiệu suất sử dụng tối đa. Sonatest đã có danh tiếng về các sản phẩm chắc chắn và chất lượng cao trên 50 năm trong lĩnh vực phục vụ công nghiệp. veo có  khung máy cứng bên trong, gắn chống sốc và được bao bọc ngoài bởi than vỏ bọc hấp thụ va đập và đảm bảo độ kín  theo chuẩn IP65. Được thiết kế với nhiều tính năng để thuận tiện làm việc tại hiện trường, thiết bị veo được lắp ráp với các khớp đặt camera tiểu chuẩn bên dưới và 4 điểm gá phía sau cho lắp giá ba chân và các phụ kiện thiết bị khác. Thêm nữa, bốn móc treo ở 4 góc máy cho phép veo được lắp vào vào dây mang thuận tiện khi thao tác cũng như di chuyển đồng thời tạo cảm giác thoải mái khi dò quét khuyết tật. veo hoạt động bằng hai pin cho phép chuyển đổi nhanh, do đó,  giảm thiểu được thời gian dừng máy và nâng cao độ tin cậy tính năng máy tại hiện trường.

UT Studio
UT Studio là gói phần mềm PC cho phân tích Phased Array và tạo báo cáo. Các file dữ liệu veo đã ghi được truyền thông dễ dàng từ cổng USB và được sử dụng để tạo các ảnh quan sát và trình chiếu mới. Sử dụng giao diện cửa sổ kéo – thả thân thiện, người sử dụng có thể tạo nhiều ảnh quan sát chẳng hạn như ảnh quét trên (Top), quét đáy (End), và B-Scan bằng cách kéo file dữ liệu veo vào trong mẫu để hiển thị.
Các con trỏ đo lường mạnh và các bộ trích được sử dụng để nhận biết các chỉ thị, kích cỡ, và chú thích các khuyết tật. Các báo cáo được tạo dễ dàng và có thể xuất sang dạng file PDF để xem lại và lưu hành.
 
3D Scanplan – Mô hình quét

Scanplan của veo hỗ trợ nhiều đầu dò và kỹ thuật dò quyét, cho phép thiết đặt các tác vụ  kiểm tra một cách nhanh chóng và hiệu quả. Chọn cấu hình mối hàn từ thư viện và quan sát sự di chuyển các đầu dò trên vùng các vị trí đã chọn. Các bước quét (skip path) được hiển thị đồng thời trên mô hình 3D Scanplan cho phép người sử dụng đảm hình dung toàn bộ quá trình quét dọc theo mối hàn. Các điểm tham chiếu đơn được chỉ thị cho phép dễ dàng biểu thị và định vị  các đầu dò nhanh chóng trên từng vị trí. Máy cho phép sử dụng kết hợp các loại đầu dò khác nhau: đầu dò kiểu xung dội; kiểu truyền qua: đầu dò phased array; TOFD… 

Ảnh A-Scan

VEO hỗ trợ kiểm tra siêu âm truyền thống với các đầu dò đơn. Màn hình LCD rõ nét cao và sự biểu hiện đồ họa nhanh đảm bảo cả cho mức độ chính xác cao và hiển thị dạng sóng tương tác nhanh. Nhờ vào độ phân giải cao của màn hình LCD, các phép đo là rõ rệt và dễ đọc, và định dạng màn hình rộng cho phép dò quét có vùng quan sát rộng hơn. Hiển thị A-Scan đảm bảo tín hiệu đỉnh luôn được hiển thị, do vậy, sẽ không bị sót khuyết tật tìm thấy

THÔNG SỐ KỸ THUẬT CHI TIẾT

MẢNG ĐIỀU PHA - PHASED ARRAY


Bộ phát xung
  • Cấu hình: 16:64 (16 kênh phát/thu; điều khiển lên tới 64 biến tử)
  • Chế độ kiểm tra: Phản xạ và truyền qua
  • Cổng cắm đầu dò: I-PEX
  • Điện thế xung phát: -50 đến -150 V (theo bước 10V)
  • Dạng xung: Xung âm dạng vuông (với ActiveEdge)
  • Độ rộng xung: 10 ns tới 500 ns
  • Thời gian Edge: <10ns trong tải 50 Ohm
  • Trở kháng đầu ra: <16 Ohm
  • Đồng bộ hóa bộ ghi: Mã hóa vị trí hoặc tự do (theo cơ sở thời gian)
  • Dải trễ hội tụ Tx/Rx: 0 – 10 µs (độ phân giải 2.5 ns)

Bộ thu
  • Dải tăng âm: 0 – 80 dB, bước chỉnh 0.5 dB
  • Trở kháng đầu vào: 50 Ohm
  • Dải tần: 300 KHz – 30 MHz (-3dB)
Thu nhận số liệu
  • Cấu trúc: Cấu trúc trễ và tổng đầy đủ
  • Tốc độ lấy mẫu: 50/100 MSPS
  • Độ phân giải ADC: 12 bit/mẫu
  • Độ rộng mẫu dữ liệu: 16 bit/mẫu
  • Ghi dữ liệu: Các dữ liệu thô được lưu đầy đủ
  • Chiều dài A-Scan tối đa: 8192 mẫu (32 m trong thép LW, tốc độ lấy mẫu 50 MSPS, lấy mẫu phụ 1:128)
  • Tần số xung lặp lại tối đa: 20 KHz
  • Số lượng luật hội tụ: Lên tới 1024
  • Kiểu hội tụ: Hội tụ theo độ sâu không đổi, theo đường truyền âm không đổi, độ lệch dọc không đổi
  • Xử lý: Làm nhẵn, trung bình, chia tỷ lệ, giữ cực đại
  • Bộ lọc: Đa băng tần dải hẹp và dải rộng
  • Lấy mẫu phụ:  1:1 tới 1:128
  • Chỉnh lưu: RF, toàn sóng, nửa sóng dương, nửa sóng âm
  • Đồng bộ hóa: Được tham chiếu trên xung ban đầu hoặc cổng, hỗ trợ IFT
  • Chế độ quét: Đa phép quét S/L-Scan và 01 ToFD
Quét và hiển thị
  • Các phép quét hỗ trợ: S-Scan và L-Scan
  • Hiển thị thời gian thực: S, L, B, C-Scan, Top và End-View
  • Bảng màu hiển thị: Cầu vồng, thang xám và phổ màu.
Con trỏ
  • Kiểu: Vuông góc theo hệ tọa độ Đề Các, hộp 2D, góc
  • Đo: Chiều dài truyền âm, độ sâu, khoảng cách bề mặt, đỉnh góc trong hộp 2D và hộp góc 2D


SIÊU ÂM TRUYỀN THỐNG/NHIỄU XẠ TOFD (Các kênh biến tử đơn)

Bộ phát xung
  • Số kênh: 2 TX/RX (2 kênh đa thành phần); 2 RX
  • Chế độ kiểm tra: Phản xạ, truyền qua và TOFD
  • Kiểu kết nối: BNC hoặc LEMO 1 (tùy chọn)
  • Điện thế xung: -400 V (có thể điều chỉnh từ  -100 V tới -400 V theo bước 10V)
  • Dạng xung: Xung âm dạng vuông (với ActiveEdge)
  • Độ rộng xung: Có thể điều chỉnh từ 25 ns tới 2000 ns, độ phân giải 2.5 ns
  • Edge time: <20 ns trong tải 50 Ohm
  • Trở kháng đầu ra: <10 Ohm
Bộ thu
  • Dải tăng âm: 110 dB (-30 dB tới 80 dB)
  • Trở kháng đầu vào: 400 Ohm
  • Bộ lọc băng thông: Băng hẹp có tần số trung tâm tại 0.5 MHz, 1 MHz, 2.25 MHz, 5 MHz, 10 MHz và 15 MHz. Dải rộng tại 1MHz tới 18 MHz (-6dB)
Thu nhận số liệu
  • Tốc độ lấy mẫu: 50/100/200 MSPS
  • Độ phân giải ADC: 10 bit/mẫu
  • Độ rộng mẫu dữ liệu: 16 bit/mẫu
  • Ghi dữ liệu: Các dữ liệu thô được lưu đầy đủ
  • Chiều dài A-Scan tối đa: 8192 mẫu
  • Tần số xung lặp lại PRF tối đa: 12 KHz
  • Xử lý: Làm nhẵn, lọc, giữ cực đại
  • Lấy mẫu phụ: 1:1 tới 1:128
  • Chỉnh lưu: RF, toàn sóng, nửa sóng dương, nửa sóng âm
  • Đồng bộ hóa: Đầu vào kỹ thuật số mở rộng, bộ mã hóa hoặc bên trong.
Quét và hiển thị
  • Các phép quét được hỗ trợ: S-Scan
  • Hiển thị: A, B-Scan và TOFD
Con trỏ
  • Kiểu: Vuông góc theo hệ tọa độ Đề Các, Hyperbolic
  • Đo: Chiều dài truyền âm, độ sâu, khoảng cách bề mặt


SIÊU ÂM TRUYỀN THỐNG VÀ PHASED ARRAY

DAC
  • Số điểm: 16
  • Số lượng đường DAC: 1 với 3 đường cong DAC phụ (trên mỗi luật hội tụ trong PA)
Tăng âm hiệu chỉnh theo thời gian TCG
  • Số điểm: 16
  • Dải tăng âm: 0-60 dB
  • Độ dốc tăng âm tối đa: > 50dB/µs
Cổng
  • Cổng A-Scan: 4 cổng trong A-scan (3 A-Scan được trích ra từ S/L-Scan)
  • Kích hoạt cổng: Sườn/đỉnh xung
  • S/L-Scan: 2 “cổng 2D” trong mỗi S/L-Scan
  • Đèn LED cảnh báo: 1 (đồng bộ hóa trên tất cả các cổng và DAC)
  • Tính năng đo trong hiển thị A-Scan: đỉnh xung, sườn xung, phản hồi tới phản hồi
                   
THÔNG SỐ CHUNG

Bộ lưu dữ liệu
  • Bên trong: 6GB (tiêu chuẩn)
  • Bên ngoài: USB 8GB có thể rút nóng (tiêu chuẩn)
  • Chỉ bị giới hạn bởi khả năng của khóa USB
  • Tốc độ truyền: Tới USB lên tới 23MB/giây ở chế độ ghi, 27MB/giây ở chế độ đọc
  • Kích thước têp dữ liệu: 2GB (hệ thống tệp FAT32)
  • Tốc độ quét điển hình: 10 đến 15 cm/giây
  • Chiều dài quét điển hình: >10m
Màn hiển thị
  • Kích thước: 25.9 cm (10.2 inch) màn hình rộng
  • Độ phân giải: 1024 x 600 pixel
  • Màu: 250K (65535 màu cho bảng màu quét)
  • Kiểu màn hình: TFT LCD
Các cổng I/O
  • Các cổng USB: 3 cổng USB (480 Mbps)
  • Ethernet: Gbit Ethernet (1000 Mbps)
  • Đầu ra Video: VGA tương tự (1024 x 600)
  • I/O 
    Mã hóa vị trí: Mã hóa 1 hoặc 2 trục vuông góc (kết nối LEMO)
  • Đầu dây đơn và đầu vào vi sai.
Pin và nguồn nuôi
  • Kiểu pin: Pin Li-Ion thông minh
  • Số lượng pin: 02
  • Hoạt động: 1 hoặc 2 pin, nguồn DC
  • Thay pin: Có thể trao đổi nóng – không yêu cầu dụng cụ hỗ trợ
  • Sạc pin: Sạc pin ở trong thiết bị, đang hoạt động hoặc không
  • Thời gian hoạt động: Liên tục trong 6+ giờ (hoạt động điển hình)
Thông số khác
  • Kích thước: Cao 220 mm x Rộng 335 mm x Dày 115 mm (8.66 in x 13.19 in x 4.52 in)
  • Trọng lượng: 5.28 kg (11.6 lb) với 01 pin; 5.75 kg (12.6 lb) với 02 pin
  • Nhiệt độ hoạt động: -10 ºC - +40 ºC (14 ºF – 104 ºF)
  • Nhiệt độ cất giữ: -25 ºC - +70 ºC (-13 ºF – 158 ºF)
  • Độ ẩm tương đối: 5 – 95 % RH
  • Cấp bảo vệ môi trường: Đạt IP 65
  • Bảo hành: 01 năm
  • Tiêu chuẩn hiệu chuẩn: EN 12668


Các tiêu chuẩn kiểm tra được hỗ trợ/ và công nhận
  • ASME Code Case 2235-9 Use of Ultrasonic Examination in Lieu of Radiography
  • ASME Code Case 2541 Use of Manual Phased Array Ultrasonic Examination Section V ASME
  • ASTM E2491 Standard Guide for Evaluating Performance Characteristics of Phased-Array Ultrasonic Examination Instruments and Systems
  • ASTM E2700 Standard Practice for Contact Ultrasonic Testing of Welds Using Phased Array
  • CEN EN 583-6 - Nondestructive testing - Ultrasonic examination - Part 6 -TOFD as a Method for Defect Detection and Sizing
  • BSI BS7706 - Guide to Calibration and Setting-Up of the Ultrasonic TOFD Technique for the Detection, Location, and Sizing of Flaws
Bộ VEO tiêu chuẩn (veo 16:64) bao gồm:
  • Thiết bị chính VEO 16:64, VEO 16:128
  • Chứng chỉ hiệu chuẩn
  • Khóa truy xuất sử dụng UT Studio Single
  • USB Memory Stick (8GB)
  • 02 pin Lithium-Ion
  • Hướng dẫn sử dụng Anh/Việt
  • Tấm bảo vệ màn hình chống lóa
  • Va li vận chuyển




PHỤ KIỆN 
  • Đầu dò Phased Array
  • Đầu dò ToFD
  • Đầu dò bánh xe - Wheel Probe
  • Các bộ quét